NSX

待审中

申请号： G1658784

申请日期： 2022-04-28

申请人： ONTO INNOVATION INC.

国际分类： 9类-科学仪器

服务项：

0901检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：测量半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）中的三维尺寸和特征叠加、检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：感测和/或捕获半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）的图像，并自动检查这些图像以了解信息，例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失;

0910检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：感测和/或捕获半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）的图像，并自动检查这些图像以了解信息，例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失、检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：测量半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）中的三维尺寸和特征叠加;

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基本信息

商标名称	NSX
申请号	G1658784	国际分类	9类-科学仪器商标分类表
商标状态	待审中	申请日期	2022-04-28
申请人	ONTO INNOVATION INC. ONTO INNOVATION INC. 查看此申请人的商标分析报告
代理机构	国际局查看此代理机构下的所有商标
商标类型	普通商标	是否共有商标	否
专用权期限	暂无	国际注册日期	暂无
后期指定日期	暂无	优先权日期	暂无

商品信息

商品与服务项

【0901】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：测量半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）中的三维尺寸和特征叠加

【0901】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：感测和/或捕获半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）的图像，并自动检查这些图像以了解信息，例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失

【0910】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：感测和/或捕获半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）的图像，并自动检查这些图像以了解信息，例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失

【0910】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：测量半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）中的三维尺寸和特征叠加

申请类似群

无

未申请类似群

无

申请人信息

申请类型	企业	地区商标	马萨诸塞商标注册
申请人名称	ONTO INNOVATION INC.(ONTO INNOVATION INC.)
申请人地址	16 Jonspin Road Wilmington MA ***(16 Jonspin Road Wilmington MA 01887)