基本信息
| 商标名称 | NSX | ||
| 申请号 | G1658784 | 国际分类 | 9类-科学仪器 商标分类表 |
| 商标状态 | 待审中 | 申请日期 | 2022-04-28 |
| 申请人 | ONTO INNOVATION INC. ONTO INNOVATION INC. 查看此申请人的商标分析报告 | ||
| 代理机构 | 国际局 查看此代理机构下的所有商标 | ||
| 商标类型 | 普通商标 | 是否共有商标 | 否 |
| 专用权期限 | 暂无 | 国际注册日期 | 暂无 |
| 后期指定日期 | 暂无 | 优先权日期 | 暂无 |
商品信息
| 商品与服务项 |
【0901】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：测量半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）中的三维尺寸和特征叠加 【0901】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：感测和/或捕获半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）的图像，并自动检查这些图像以了解信息，例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失 【0910】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：感测和/或捕获半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）的图像，并自动检查这些图像以了解信息，例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失 【0910】检查和计量设备及装置，即以下用途的设备和装置：测量半导体和电子相关组件（包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质）中的三维尺寸和特征叠加 |
||
| 申请类似群 | 无 | 未申请类似群 | 无 |
申请人信息
| 申请类型 | 企业 | 地区商标 | 马萨诸塞商标注册 |
| 申请人名称 | ONTO INNOVATION INC.(ONTO INNOVATION INC.) | ||
| 申请人地址 | 16 Jonspin Road Wilmington MA ***(16 Jonspin Road Wilmington MA 01887) | ||
流程信息
|
2022-10-06 领土延伸-驳回电子发文 2022-04-28 领土延伸-申请收文 |
公告信息
| 初审公告期号 | 暂无 | 初审公告日期 | 暂无 |
| 注册公告期号 | 暂无 | 注册公告日期 | 暂无 |
