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EMIA

已注册

申请号： 1417422

申请日期： 1999-07-23

申请人：株式会社堀场制作所

国际分类： 9类-科学仪器

服务项：

PH值感应组件、PH值分析器、传导性监测器、能量色散X-光分析器、X-光荧光分析器、碳/硫磺分析器、氧/氮/氢分析器、粒子尺寸分布分析器、气体比重计、光网/罩片粒子探测装置、液体粒子计算器、超纯水监测器、痕量气体监测器、汽化液体源控制装置、X-射线探测器、温差电堆控制器、盐浓度测量器、钙硬度测量器、分解氧气检验器、PH值计量器、PH值电极、用于生活环境及污染监测和分析方面的仪器和设备、行驶监视仪（车辆用）、汽车废气排放分析装置、汽车废气排放分析器、空气-燃料比率分析器、车辆废气排放检验装置、废气排放检验装置、机器性能试验装置、底盘式直流功率计、气体净化器（用来解析气体的科学仪器）、气体分隔器（用来解析气体的科学仪器）、PH值及氧化-还原电位分析仪、后附说明;

0910红外线气体分析器、分解氧气监测器、浊度监测器、硅氧监测器、硅氧分析器、分解氧气分析器、钠离子量度监测器、肼监测器、磷酸盐分析器、过程气体分析器、热传导气体和氢气分析器、磁性氧气分析器、顺磁性氧气分析器、燃烧器辐射分析器、碳分析器、薄片平度分析器、半导体杂质分析器、质量流动控制器、光学结晶体、闪光结晶体、热电红外线探测器、智能测定器、速度计、植物光合作分析器、传导率计量器、测盐计、离子测量计、氧气计量器、盐浓度检查器、离子选择电极、非接触式红外线温度计、容量取样器、废气排放检验处理机、蒸发测定密封室设备;

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基本信息

商标名称	EMIA
申请号	1417422	国际分类	9类-科学仪器商标分类表
商标状态	已注册	申请日期	1999-07-23
申请人	株式会社堀场制作所 HORIBA，LTD. 查看此申请人的商标分析报告
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司查看此代理机构下的所有商标
商标类型	普通商标	是否共有商标	否
专用权期限	2020-07-07至2030-07-06	国际注册日期	暂无
后期指定日期	暂无	优先权日期	暂无

商品信息

商品与服务项

PH值感应组件

PH值分析器

传导性监测器

能量色散X-光分析器

X-光荧光分析器

碳/硫磺分析器

氧/氮/氢分析器

粒子尺寸分布分析器

气体比重计

光网/罩片粒子探测装置

液体粒子计算器

超纯水监测器

痕量气体监测器

汽化液体源控制装置

X-射线探测器

温差电堆控制器

盐浓度测量器

钙硬度测量器

分解氧气检验器

PH值计量器

PH值电极

用于生活环境及污染监测和分析方面的仪器和设备

行驶监视仪（车辆用）

汽车废气排放分析装置

汽车废气排放分析器

空气-燃料比率分析器

车辆废气排放检验装置

废气排放检验装置

机器性能试验装置

底盘式直流功率计

气体净化器（用来解析气体的科学仪器）

气体分隔器（用来解析气体的科学仪器）

PH值及氧化-还原电位分析仪

后附说明

【0910】红外线气体分析器

【0910】分解氧气监测器

【0910】浊度监测器

【0910】硅氧监测器

【0910】硅氧分析器

【0910】分解氧气分析器

【0910】钠离子量度监测器

【0910】肼监测器

【0910】磷酸盐分析器

【0910】过程气体分析器

【0910】热传导气体和氢气分析器

【0910】磁性氧气分析器

【0910】顺磁性氧气分析器

【0910】燃烧器辐射分析器

【0910】碳分析器

【0910】薄片平度分析器

【0910】半导体杂质分析器

【0910】质量流动控制器

【0910】光学结晶体

【0910】闪光结晶体

【0910】热电红外线探测器

【0910】智能测定器

【0910】速度计

【0910】植物光合作分析器

【0910】传导率计量器

【0910】测盐计

【0910】离子测量计

【0910】氧气计量器

【0910】盐浓度检查器

【0910】离子选择电极

【0910】非接触式红外线温度计

【0910】容量取样器

【0910】废气排放检验处理机

【0910】蒸发测定密封室设备

申请类似群

无

未申请类似群

无

申请人信息

申请类型	企业	地区商标	京都商标注册
申请人名称	株式会社堀场制作所(HORIBA，LTD.)
申请人地址	日本国京都府京都市南区吉祥院宫の***(2.MIYANOHIGASHI-MACHI，KISSHOIN，MINAMI-KU，KYOTO，JAPAN)