基本信息
| 商标名称 | NIDEK | ||
| 申请号 | 275692 | 国际分类 | 9类-科学仪器 商标分类表 |
| 商标状态 | 已注册 | 申请日期 | 1986-03-21 |
| 申请人 | 株式会社尼德克 NIDEK CO.，LTD. 查看此申请人的商标分析报告 | ||
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 查看此代理机构下的所有商标 | ||
| 商标类型 | 普通商标 | 是否共有商标 | 否 |
| 专用权期限 | 2017-01-20至2027-01-19 | 国际注册日期 | 暂无 |
| 后期指定日期 | 暂无 | 优先权日期 | 暂无 |
商品信息
| 商品与服务项 |
自动硅晶片测量仪器 晶片传送装置 检查用显微镜仪器 视力测微计 平面测定机 自动米距透镜 光距透镜 辐射线仪器 光学透视检验器 检验器械及材料 光学 |
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| 申请类似群 | 无 | 未申请类似群 | 无 |
申请人信息
| 申请类型 | 企业 | 地区商标 | 爱知商标注册 |
| 申请人名称 | 株式会社尼德克(NIDEK CO.，LTD.) | ||
| 申请人地址 | 日本爱知县蒲郡市拾石町前浜3***(34-14，MAEHAMA，HIROISHI-CHO，GAMAGORI，AICHI 443-0038，JAPAN) | ||
流程信息
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2017-03-31 商标续展-核准通知打印发送 2016-12-09 商标续展-申请收文 1986-03-21 商标注册申请-申请收文 |
公告信息
| 初审公告期号 | 第158期 | 初审公告日期 | 1986-10-20 |
| 注册公告期号 | 第167期 | 注册公告日期 | 1987-01-20 |
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2017-03-27 第1545期《注册商标续展公告》 2007-07-21 第1080期《注册商标续展公告》 2007-07-07 第1078期《商标注册人/申请人名义及地址变更公告》 2006-09-07 第1038期《变更商标代理机构公告》 1997-05-21 第592期《注册商标续展公告》 1987-01-20 第167期《商标注册公告（一）》 1986-10-20 第158期《商标初步审定公告》 |
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