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J
待审中
申请号：G1684492
申请日期：2022-09-22
商品/服务项：用于集成电路测试器中测试接触器的外壳；测试集成电路用装置性质的测试夹具，用于集成电路测试器的接触测试引脚，以及集成电路测试用插座，及其组件；半导体测试仪；测试集成电路用装置性质的测试夹具，用于集成电路测试器的接触测试引脚，以及集成电路测试用插座，及其组件；用于集成电路测试器中测试接触器的外壳；
J-TUNED
待审中
申请号：G1690653
申请日期：2022-10-20
商品/服务项：与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询；与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询；与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务；与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务；集成电路芯片测试探针的设计与开发；集成电路芯片测试探针的设计与开发；集成电路芯片测试探针的设计与开发；
JOHNSTECH
已注册
申请号：G1682839
申请日期：2022-09-15
商品/服务项：与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务；与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务；
JOHNSTECH
已注册
申请号：G1682839
申请日期：2022-09-15
商品/服务项：用于集成电路测试器中测试接触器的外壳；用于集成电路测试器中测试接触器的外壳；半导体测试仪；测试集成电路用装置性质的测试夹具，用于集成电路测试器的接触测试引脚，以及集成电路测试插座，及其组件；测试集成电路用装置性质的测试夹具，用于集成电路测试器的接触测试引脚，以及集成电路测试插座，及其组件；
J-TUNED
待审中
申请号：G1691421
申请日期：2022-10-20
商品/服务项：与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务；与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询；集成电路芯片测试探针的设计与开发；集成电路芯片测试探针的设计与开发；与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务；与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询；集成电路芯片测试探针的设计与开发；
图形
待审中
申请号：G1625407
申请日期：2021-11-11
商品/服务项：半导体测试仪；用于集成电路测试器中测试接触器的外壳；以及集成电路测试用插座，及其组件；用于集成电路测试器的接触测试引脚；测试集成电路用装置性质的测试夹具；
图形
待审中
申请号：G1625407
申请日期：2021-11-11
商品/服务项：与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务；与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务；
J
待审中
申请号：G1684492
申请日期：2022-09-22
商品/服务项：与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务；与下述内容相关的技术建议、信息和咨询：测试集成电路芯片用阵列式探针测试，测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发；
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