一种快速检测微处理器IO漏电的装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202220097045.5
IPC分类号：G01R31/52
申请日期：
2022-01-14
申请人：
上海芯旺微电子技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种快速检测微处理器IO漏电的装置
申请号	CN202220097045.5	申请日期	2022-01-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/52	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;5;2查看分类表>
申请人	上海芯旺微电子技术有限公司	申请人地址	上海市浦东新区龙东大道3000号张江集电港1幢9楼B区906B室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海芯旺微电子技术有限公司	当前权利人	上海芯旺微电子技术有限公司
发明人	张茂林;杨校;万荣;李肖迪
代理机构	上海唯智赢专利代理事务所（普通合伙）	代理人	王圣

摘要

本实用新型涉及一种快速检测微处理器IO漏电的装置，属于集成电路技术领域。包括外壳、接触探针、电源接口、比较电路和指示单元；其中接触探针安装在外壳的一端，指示单元和电源接口安装在外壳表面，电源接口比较电路安装在外壳中，比较电路分别与电源接口、指示单元和接触探针连接。本实用新型通过一个便携装置能在微处理器出厂前和使用中对其IO漏电情况进行快速检测，并通过切换开关能同时检测N管漏电和P管漏电。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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