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一种数控装置老化自动测试设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201420735630.9
IPC分类号：G05B19/406
申请日期：
2014-11-28
申请人：
武汉华中数控股份有限公司

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种数控装置老化自动测试设备
申请号	CN201420735630.9	申请日期	2014-11-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G05B19/406 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G05 控制；调节 G05B 一般的控制或调节系统；这种系统的功能单元；用于这种系统或单元的监视或测试装置（应用流体作用的一般流体压力执行器或系统入F15B；阀门本身入F16K；仅按机械特征区分的入G05G；传感元件见相应小类，例如G12B，G01、H01的小类；校正单元见相应的小类，例如H02K） G05B19/00 程序控制系统（特殊应用见有关位置，例如A47L 15/46；附带或内装有在预定时间间隔操作任一器件的装置的时钟入G04C 23/00；记录或读取数字信息的记录载体入G06K；信息存储器入G11；在程序执行完了后自动终止其运行的时间或时间程序开关入H01H 43/00） G05B19/02 电的 G05B19/18 数字控制（NC），即在特殊机床中的自动操作机器，例如在1个制造设施中通过以数字形式的程序数据来执行定位、移动或协调操作（G05B 19/418优先）〔6〕 G05B19/406 以监视或安全装置为特征的（G05B 19/19优先）〔6〕	IPC分类号	G;0;5;B;1;9;/;4;0;6查看分类表>
申请人	武汉华中数控股份有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖开发区华工科技园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉华中数控股份有限公司	当前权利人	武汉华中数控股份有限公司
发明人	周岐荒;李敏;王鹏贺;鲜飞;沈应龙;胡少云;周丹;胡洁
代理机构	武汉东喻专利代理事务所（普通合伙）	代理人	宋业斌

摘要

本实用新型公开了一种数控装置老化自动测试设备，包括老化箱单元，电气柜单元，老化状态实时监控单元；所述老化箱包括箱体和温度控制器；所述电气柜单元包括供电模块、伺服驱动器和伺服电机；所述实时监控单元包括信号采集电路板、置于箱体内的温度传感器、和采集并处理老化过程中箱体内状态数据控制模块。本实用新型能满足批量测试需求，安全、高效，并且能够实时处理信息得出统计规律。

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