一种基于量化时延法提高FID信号测频精度的方法及电路

发明专利有效专利

申请号：
CN201710002829.9
IPC分类号：G01R33/02;G01V3/40
申请日期：
2017-01-03
申请人：
中国地质大学（武汉）

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著录项信息

专利名称	一种基于量化时延法提高FID信号测频精度的方法及电路
申请号	CN201710002829.9	申请日期	2017-01-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-10	公开/公告号	CN106646282A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;2;;;G;0;1;V;3;/;4;0查看分类表>
申请人	中国地质大学（武汉）	申请人地址	湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国地质大学（武汉）	当前权利人	中国地质大学（武汉）
发明人	葛健;董浩斌;邱香域;刘欢;罗望;李晗
代理机构	武汉知产时代知识产权代理有限公司	代理人	曹雄;郝明琴

摘要

本发明提出了一种基于量化时延法提高FID信号测频精度的方法，测频方法利用等精度测频的原理，采取“粗测+细测”精密测量的方式，“细测”的方式利用量化时延法对标准时钟边沿与待测信号边沿的不同步进行了时间补偿，所述量化延时法采用数字时间内插的方法，克服了模拟内插器硬件复杂的缺陷，测频模块中的各个子系统集成于FPGA中，使得电路易于实现且可靠性高，并且测频的分辨率取决于单位延时单元的延时量，极大程度上提高了磁力仪的测频精度，还可以在既定目标基础上选用相应的器件，降低了改造成本。本发明还包括一种基于量化时延法提高FID信号测频精度的电路。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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