一种激光器的测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010374728.6
IPC分类号：G01R31/26;G01M11/02;G01J3/28;G01J3/02
申请日期：
2020-05-06
申请人：
武汉电信器件有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种激光器的测试系统
申请号	CN202010374728.6	申请日期	2020-05-06
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-09-04	公开/公告号	CN111624456A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	武汉电信器件有限公司	申请人地址	湖北省武汉市洪山区邮科院路88号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉电信器件有限公司	当前权利人	武汉电信器件有限公司
发明人	阮扬;程尧;张瑞全
代理机构	北京派特恩知识产权代理有限公司	代理人	李路遥;张颖玲

摘要

本发明实施例公开了一种激光器的测试系统，所述测试系统包括：PIV测试模块，PIV测试模块包括：PIV测试组件和温度控制组件；控制模块，用于发出PIV测试指令和光谱测试指令；光谱测试模块，用于接收所述控制模块发送的光谱测试指令，并响应所述光谱测试指令测试同轴封装(TO‑Can)半导体激光器的光谱特性得到光谱特性数据；温度控制组件，用于接收所述控制模块发送的PIV测试指令，并响应所述PIV测试指令控制所述TO‑Can半导体激光器的温度为预设温度；PIV测试组件，用于接收所述控制模块发送的PIV测试指令，响应所述PIV测试指令并基于第一光信号对所述TO‑Can半导体激光器进行PIV测试得到PIV测试数据；其中，所述第一光信号为所述TO‑Can半导体激光器在温度为预设温度时发射的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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