一种基于蒙特卡罗自适应降低方差的辐射屏蔽计算方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410668296.4
IPC分类号：G06F19/00
申请日期：
2014-11-20
申请人：
中国科学院合肥物质科学研究院

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著录项信息

专利名称	一种基于蒙特卡罗自适应降低方差的辐射屏蔽计算方法
申请号	CN201410668296.4	申请日期	2014-11-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-02-25	公开/公告号	CN104376217A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F19/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F19/00 专门适用于特定应用的数字计算或数据处理的设备或方法（专门适用于特定功能的入G06F17/00；专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或数据处理方法入G06Q；医疗信息学入G16H）〔6，2006.01，2011.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院合肥物质科学研究院	申请人地址	安徽省合肥市蜀山湖路350号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院合肥物质科学研究院	当前权利人	中国科学院合肥物质科学研究院
发明人	郑华庆;宋婧;孙光耀;郝丽娟;吴宜灿
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	成金玉;孟卜娟

摘要

本发明公开了一种基于蒙特卡罗自适应降低方差的辐射屏蔽计算方法，在传统的基于权窗减方差的蒙特卡罗方法的基础上，根据其确定论方法伴随通量计算结果的具体情况，进而计算得到重要性参数，将这些参数写入基于蒙特卡罗的辐射屏蔽计算程序的输入文件中，再进行辐射屏蔽计算。在基于蒙特卡罗的辐射屏蔽计算过程中，在根据前一步得到的重要性参数对粒子进行偏倚输运的同时，对粒子径迹进行保存，即给出每一个粒子经过的栅元，帮助用户在模拟过程中自动干预调整几何区域重要性参数的设置，并在后续计算中使用新的栅元重要性参数，实现自动偏倚。本发明避免了传统的基于经验式权窗减方差的蒙特卡罗方法的使用，达到精确快速进行辐射屏蔽计算的效果。

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