加工物件基础规格的检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410080865.3
IPC分类号：G01B11/14
申请日期：
2014-03-07
申请人：
达观科技有限公司

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著录项信息

专利名称	加工物件基础规格的检测方法
申请号	CN201410080865.3	申请日期	2014-03-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-09-09	公开/公告号	CN104897070A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/14 用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙（G01B 11/26优先；测距仪本身入G01C 3/00）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;4查看分类表>
申请人	达观科技有限公司	申请人地址	中国台湾台中市西屯区中清路209之5号4楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	达观科技有限公司	当前权利人	达观科技有限公司
发明人	冯兆平
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	曹玲柱

摘要

本发明提供了一种加工物件基础规格的检测方法，适用于板状的物件。该检测方法使用一摄影器材，该物件上定义有至少二参考点，该摄影器材具有至少二视窗，该些视窗内各定义有一校正点，且该些视窗的投影范围内各涵盖有一该参考点，各该视窗中的该参考点与该校正点互为对应；本发明加工物件基础规格的检测方法是使用一数值模拟技术，模拟该物件位于最佳的加工位置的情形，并通过该些参考点在该物件位于该最佳加工位置时与各自对应的该校正点之间的距离，判断该物件是否符合进行后续校正及加工的基础规格。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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