一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201821170649.8
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2018-07-16
申请人：
昆明理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路
申请号	CN201821170649.8	申请日期	2018-07-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	昆明理工大学	申请人地址	云南省昆明市五华区学府路253号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	昆明理工大学	当前权利人	昆明理工大学
发明人	邹铭锐;荣恩国;李得菘;方兴波
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路，属于电子技术领域。本实用新型提供的LM317芯片故障检测电路操作简单，连接方便，只需将待检测的LM317芯片插入连接底座便可检测；能够高效直观、方便简单地检测一个LM317芯片是否存在故障；使用这样的电路，可以在使用LM317芯片前，检测其是否已存在故障；可以在含有LM317的电路出现故障时，判断故障是否是由LM317芯片损坏而造成，方便排除电路故障。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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