芯片中的DIEID的读取电路以及芯片

发明专利有效专利

申请号：
CN201610255945.7
IPC分类号：G11C16/26
申请日期：
2016-04-23
申请人：
华为技术有限公司

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著录项信息

专利名称	芯片中的DIEID的读取电路以及芯片
申请号	CN201610255945.7	申请日期	2016-04-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-08-24	公开/公告号	CN105895158A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C16/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C16/00 可擦除可编程序只读存储器（G11C 14/00优先）〔5〕 G11C16/02 电可编程序的〔5〕 G11C16/06 辅助电路，例如，用于写入存储器的（一般入G11C 7/00）〔5〕 G11C16/26 读出或读电路；数据输出电路〔7〕	IPC分类号	G;1;1;C;1;6;/;2;6查看分类表>
申请人	华为技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华为技术有限公司	当前权利人	华为技术有限公司
发明人	梁波;王琦;刘元
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	郝传鑫;熊永强

摘要

本发明公开了一种芯片中的裸片标识的读取电路，所述读取电路包括：芯片损坏检测电路、开关选择器、熔丝控制器以及熔丝器件；熔丝器件存储DIEID；熔丝控制器读取熔丝器件中的DIEID；芯片损坏检测电路检测芯片中的处理器是否能够正常工作以得到检测结果，并将检测结果通知开关选择器；开关选择器在检测结果为处理器能正常工作时，将处理器与熔丝控制器连通以选择通过处理器控制熔丝控制器读取熔丝器件中的DIEID，并在检测结果为处理器不能正常工作时，将位于芯片之外的维护设备与熔丝控制器连通以选择通过维护设备控制熔丝控制器读取熔丝器件中的DIEID。上述电路能够在处理器不能正常工作时，依然能够读取DIEID。

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