芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

发明专利无效专利

申请号：
CN201910738668.9
IPC分类号：G06F11/36;G06F11/26
申请日期：
2019-08-12
申请人：
上海燧原智能科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
申请号	CN201910738668.9	申请日期	2019-08-12
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2019-10-11	公开/公告号	CN110321292A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/36 通过软件的测试或调试防止错误〔7〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;3;6;;;G;0;6;F;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	上海燧原智能科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海燧原智能科技有限公司	当前权利人	上海燧原智能科技有限公司
发明人	马海英;路利刚;韩晶
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	孟金喆

摘要

本发明实施例提供了一种芯片测试方法、方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：根据目标芯片特征构建虚拟芯片验证测试环境，虚拟芯片验证测试环境包含与目标芯片具有相同逻辑和时序行为的芯片；根据预设测试数据和虚拟芯片验证测试环境进行测试代码的校验；若校验成功，将与目标芯片具有相同逻辑和时序行为的芯片替换为待测试芯片；使用校验成功的测试代码对待测试芯片进行测试，能够无缝切换到用于真实新芯片的测试，将测试代码与芯片测试有机结合起来，缩短了测试周期，降低了测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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