一种半导体探针测试治具

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201921655213.2
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2019-09-30
申请人：
安测半导体技术（江苏）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种半导体探针测试治具
申请号	CN201921655213.2	申请日期	2019-09-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	安测半导体技术（江苏）有限公司	申请人地址	江苏省扬州市邗江区安桥路1号高新区大楼9楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安测半导体技术（江苏）有限公司	当前权利人	安测半导体技术（江苏）有限公司
发明人	向俊武;周游;陈小跃;陈浩
代理机构	南京苏科专利代理有限责任公司	代理人	陈亮

摘要

本实用新型涉及半导体生产测试领域的一种半导体探针测试治具，下固定座上设置有固定台，上固定座下面设置有伸出气缸组件，伸出气缸组件下面配合设置有探针测试组件，探针测试组件设置有若干组，探针测试组件排布设置有若干组，固定台上设置有限位组件，探针测试组件对应限位组件设置；探针测试组件包括设置在限位组件左侧的左侧探针限位部，设置在限位组件右侧的右侧探针限位部，设置在限位组件上面的上侧探针限位部；该实用新型能够自动进行限位，不会安装出错，在工作时候的时候能够自动进行校正，同时确保中心探针具有较好的回弹力，提高测试效率，避免探针过快的损坏。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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