多功能测试座

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201620355330.7
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2016-04-25
申请人：
常州银河世纪微电子有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	多功能测试座
申请号	CN201620355330.7	申请日期	2016-04-25
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	常州银河世纪微电子有限公司	申请人地址	江苏省常州市新北区长江北路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	常州银河世纪微电子股份有限公司	当前权利人	常州银河世纪微电子股份有限公司
发明人	梁维群
代理机构	常州市科谊专利代理事务所	代理人	孙彬

摘要

本实用新型公开了一种多功能测试座，包括PCB板，所述PCB板上固定有多个用于焊接待测试器件的焊盘，每个焊盘的阴阳两极均与两组开关电连接，同一极的相邻的开关之间或连接或断开。本实用新型在每个焊盘的阴阳两极均与两组开关电连接，通过调节相邻开关的连接状态使不同器件之间任意组成串联或并联状态，能够分别单独测试器件的电性参数，还能测试在不同串并联状态下的器件的电性参数，测试过程简单方便，极大地降低了器件试验的难度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供