一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201920603954.X
IPC分类号：G02B27/09;G02B27/00;G02B7/02;G01N21/88
申请日期：
2019-04-29
申请人：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心

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专利名称	一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置
申请号	CN201920603954.X	申请日期	2019-04-29
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02B27/09 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02B 光学元件、系统或仪器（G02F优先；专用于照明装置或系统的光学元件入F21V 1/00至F21V 13/00；测量仪器见G01类的有关小类，例如，光学测距仪入G01C；光学元件、系统或仪器的测试入G01M 11/00；眼镜入G02C；摄影、放映或观看用的装置或设备入G03B；声透镜入G10K 11/30；电子和离子“光学”入H01J；X射线“光学”入H01J，H05G 1/00；结构上与放电管相组合的光学元件入H01J 5/16，H01J 29/89，H01J 37/22；微波“光学”入H01Q；光学元件与电视接收机的组合装置入H04N 5/72；彩色电视系统中的光学系统或装置入H04N 9/00；专门适用于透明或反射区的加热装置入H05B 3/84）〔1，7〕 G02B27/00 其他光学系统；其他光学仪器（使商店橱窗或陈列柜产生特别光学效果的装置入A47F，例如，A47F 11/06；光学玩具入A63H 33/22；以具有特殊光学效果为特征的设计或图样入B44F 1/00） G02B27/09 其他位置不包括的光束整形，例如改变横截面积〔6〕	IPC分类号	G;0;2;B;2;7;/;0;9;;;G;0;2;B;2;7;/;0;0;;;G;0;2;B;7;/;0;2;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	申请人地址	四川省绵阳市绵山路64号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	当前权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心
发明人	刘昂;赵智亮;徐凯源;柴立群;李强;高波;赵子嘉;何宇航
代理机构	成都弘毅天承知识产权代理有限公司	代理人	汤春微

摘要

本实用新型公开了一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置，涉及光学元件检测装置技术领域，本实用新型包括若干组水平布置的光束形成机构，光束形成机构均包括从右到左依次布置的基础光源、准直透镜、扩束凹镜和柱面准直镜，准直透镜为平凸柱面透镜A，平凸柱面透镜A的平面一端靠近基础光源，扩束凹镜为平凹柱面透镜A，柱面准直镜包括组合在一起的平凹柱面透镜B和平凸柱面透镜B，平凹柱面透镜B的平面一端靠近平凹柱面透镜A，平凸柱面透镜B的平面一端靠近平凹柱面透镜B，平凸柱面透镜B的凸面为出光面，本实用新型具有加工成本低、加工难度低、输出光束质量高的优点。

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