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氧化硅包覆单壁碳纳米管纳米电缆结构的合成方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810010444.8
  • IPC分类号:C01B31/02;C01B33/12;H01B7/00
  • 申请日期:
    2008-02-20
  • 申请人:
    中国科学院金属研究所
著录项信息
专利名称氧化硅包覆单壁碳纳米管纳米电缆结构的合成方法
申请号CN200810010444.8申请日期2008-02-20
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2009-08-26公开/公告号CN101513997
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C01B31/02IPC分类号C;0;1;B;3;1;/;0;2;;;C;0;1;B;3;3;/;1;2;;;H;0;1;B;7;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院金属研究所申请人地址
辽宁省沈阳市沈河区文化路72号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院金属研究所当前权利人中国科学院金属研究所
发明人刘畅;张艳丽;王兆钰;成会明
代理机构沈阳科苑专利商标代理有限公司代理人张志伟
摘要
本发明涉及纳米电缆的合成技术,特别提供了一种电弧放电法原位合成无定形氧化硅包覆单壁碳纳米管纳米电缆结构的制备方法。采用阴、阳极直流电弧放电的方式原位制备;阳极为由石墨、硅粉、催化剂、生长促进剂压制而成的消耗性阳极,起弧放电后,石墨、硅粉、催化剂、生长促进剂原料共蒸发,原位合成出氧化硅包覆一根或几根单壁碳纳米管纳米电缆结构。氧化硅具有热稳定性好、介电常数高、漏电流小、耐压强度高等特点,是纳米电缆及场效应管等纳米器件中绝缘层的理想材料;此外,所研制纳米电缆的芯体仅由一根或几根单壁碳纳米管构成,将有利于单壁碳纳米管纳米尺度效应的发挥并提高所构建纳米器件的效率和灵敏度等性能。

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