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用于X射线衍射测量的探测单元

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410056720.6
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2004-08-10
  • 申请人:
    伦琴光学学院有限责任公司
著录项信息
专利名称用于X射线衍射测量的探测单元
申请号CN200410056720.6申请日期2004-08-10
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2005-03-09公开/公告号CN1590992
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人伦琴光学学院有限责任公司申请人地址
俄罗斯莫斯科 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人伦琴光学学院有限责任公司当前权利人伦琴光学学院有限责任公司
发明人穆拉丁A·库玛克霍夫;纳里门S·伊布赖莫夫;亚历山大V·莱乌特索;埃卡特里娜V·利克胡希纳;亚历山大E·布尔金;斯维特拉娜V·尼基蒂纳
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司代理人郑玮
摘要
探测单元包括位置灵敏探测器1和位于其窗口19前面的准直系统2。准直系统被制成蜂巢结构的形式,包括大量用于透射经衍射的X射线辐射的管状通道。相邻的管状通道的壁被熔合在一起。形成准直系统的出口端面22的通道的出口端被取向为朝向位置灵敏探测器的窗口19。在准直系统2的出口端面中的通道的出口被配置成沿位置灵敏探测器的窗口19的几个排列。管状通道的壁用吸收X射线辐射的材料形成。准直系统被安装成具有相对于窗口19对准位置灵敏探测器而调节其位置的可能性。所规定的实施例提供了防止衍射图变形以及提高探测单元灵敏度的性能。

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