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一种MINILED芯片老化测试基板

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202121045525.9
  • IPC分类号:G01R31/28
  • 申请日期:
    2021-05-14
  • 申请人:
    上海尼硕库电子科技有限公司
著录项信息
专利名称一种MINILED芯片老化测试基板
申请号CN202121045525.9申请日期2021-05-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人上海尼硕库电子科技有限公司申请人地址
上海市闵行区园文路28号1207 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海尼硕库电子科技有限公司当前权利人上海尼硕库电子科技有限公司
发明人何宏城
代理机构上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)代理人雍常明
摘要
本实用新型公开了一种MINILED芯片老化测试基板,包括压板主体,所述压板主体一侧两端均通过转轴螺丝传动连接有转轴固定件,且两侧转轴固定件通过固定板螺丝固定连接有PCB底板,且PCB底板一侧两端均设有接电端子;通过设置的压板主体和PCB底板,当芯片进行测试能够通过将FPC软板通过与一侧接电连接器进行连接后,通过转动压板主体带动前端转轴固定件围绕转轴螺丝转动,将压板主体通过压扣组件与FPC软板压合后,能够将压板主体通过一侧接电端子与测试机台进行插置连接,继而能够通过压板主体和PCB底板实现对待测FPC软板进行夹持固定,且多个压片式的压板主体能够有效缩小插置空间,有效提高测试时叠加放置,提高测试容量上限,满足大批次测试的需要。

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