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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

电子产品的自动测试系统

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200820147438.2
  • IPC分类号:G01R31/00
  • 申请日期:
    2008-09-12
  • 申请人:
    惠州华阳通用电子有限公司
著录项信息
专利名称电子产品的自动测试系统
申请号CN200820147438.2申请日期2008-09-12
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/00IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人惠州华阳通用电子有限公司申请人地址
广东省惠州市仲恺高新技术开发区松山工业园6号小区外 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人惠州华阳通用电子有限公司当前权利人惠州华阳通用电子有限公司
发明人刘军;张宇
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人朱晓江;周正雄
摘要
本实用新型涉及一种电子产品的自动测试系统,包括测试主机(1)、信号采集器(2)、通道切换开关(3)和功能切换装置(4),其中:功能切换装置(4)接收测试主机(1)的功能切换信号,根据该信号切换被测产品(8)的待测功能;通道切换开关(3)接收测试主机(1)的通道切换信号,并选通与被测产品(8)的待测功能对应的通道;信号采集器(2)串接测试主机(1)和通道切换开关(3),采集被测产品(8)的待测信号,将待测信号发送给测试主机(1);测试主机(1)根据预设标准分析待测信号,产生测试结果。因为功能切换装置能够在测试主机的控制下切换被测产品的待测功能,实现了方便地测试被测产品的多种功能,提高了效率。

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