一种基于光波幅值比的色散位移传感器

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201820816677.6
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2018-05-30
申请人：
中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

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专利名称	一种基于光波幅值比的色散位移传感器
申请号	CN201820816677.6	申请日期	2018-05-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	申请人地址	四川省绵阳市919信箱658分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	当前权利人	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
发明人	袁道成;刘乾;何华斌
代理机构	中国工程物理研究院专利中心	代理人	翟长明;韩志英

摘要

本实用新型公开了一种基于光波幅值比的色散位移传感器。该色散位移传感器包括通过光纤顺序连接的光源、环行器、色散物镜，探测单元再通过光纤与环行器连接，探测单元获得的数据输入至计算单元进行计算。该色散位移传感器的光源可发射包含有两个波长的光波，不同波长的光通过色散物镜后聚焦在两个不同距离的位置上，当被测物体位置发生变化时，光探测器收到的两个波长光的相对强度也会相应发生变化，据此可以确定被测物体的位移。本实用新型的基于光波幅值比的色散位移传感器克服了色散共焦位移传感器因应用连续谱光源和线阵探测器而导致的测量速度低的不足，得到了一种高速的非接触位移传感器。

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