一种基于介质射线追踪的多层非平行界面介质电磁散射仿真算法

发明专利有效专利

申请号：
CN201611110549.1
IPC分类号：G01S7/41
申请日期：
2016-12-02
申请人：
上海无线电设备研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于介质射线追踪的多层非平行界面介质电磁散射仿真算法
申请号	CN201611110549.1	申请日期	2016-12-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-31	公开/公告号	CN106772301A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S7/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S7/00 与G01S 13/00，G01S 15/00，G01S 17/00各组相关的系统的零部件 G01S7/02 与G01S 13/00组相应的系统的 G01S7/41 使用考虑到目标特性的回波信号的分析；目标形状的；目标截面的〔6〕	IPC分类号	G;0;1;S;7;/;4;1查看分类表>
申请人	上海无线电设备研究所	申请人地址	上海市杨浦区黎平路203号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海无线电设备研究所	当前权利人	上海无线电设备研究所
发明人	谢志杰;梁子长;何鸿飞;高鹏程
代理机构	上海信好专利代理事务所（普通合伙）	代理人	尹兵

摘要

本发明公开了一种基于介质射线追踪的多层非平行界面介质电磁散射仿真算法，包含以下步骤：S1、多层非平行界面介质中的射线追踪，获取多次反射交点信息；S2、多层非平行界面介质中的场强追踪，获取射线与目标及介质交点处的电场信息；S3、多层介质包覆目标的远区散射场建模，获取总散射场及雷达散射截面信息，完成多层非平行界面介质电磁散射仿真。本发明利用射线来等效电磁波在多层介质中的反射与折射，通过引入分层介质间的反射系数和透射系数，实现了多层非平行界面介质中隐伏目标的电磁散射建模，是一种行之有效的多层介质包覆目标的电磁散射建模方案。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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