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半导体发光元件

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110662667.8
  • IPC分类号:H01L33/06;H01L33/12;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00
  • 申请日期:
    2021-06-15
  • 申请人:
    厦门士兰明镓化合物半导体有限公司;杭州士兰明芯科技有限公司
著录项信息
专利名称半导体发光元件
申请号CN202110662667.8申请日期2021-06-15
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-14公开/公告号CN113394314A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L33/06IPC分类号H;0;1;L;3;3;/;0;6;;;H;0;1;L;3;3;/;1;2;;;H;0;1;L;3;3;/;1;4;;;H;0;1;L;3;3;/;3;2;;;H;0;1;L;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人厦门士兰明镓化合物半导体有限公司;杭州士兰明芯科技有限公司申请人地址
福建省厦门市海沧区兰英路99号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人厦门士兰明镓化合物半导体有限公司,杭州士兰明芯科技有限公司当前权利人厦门士兰明镓化合物半导体有限公司,杭州士兰明芯科技有限公司
发明人郑锦坚;高默然;毕京锋;范伟宏;曾家明;张成军
代理机构上海思捷知识产权代理有限公司代理人刘畅
摘要
本发明提供了一种半导体发光元件,所述半导体发光元件从下至上依次包括:衬底、n型半导体层、掺杂量子阱层、老化光衰控制层以及p型半导体层,所述老化光衰控制层从下至上依次包括具有至少一层非掺杂的垒层的非掺杂量子阱层、第一光衰控制层和/或第二光衰控制层。本发明通过在掺杂量子阱层和p型半导体层之间增加老化光衰控制层,可以降低长期老化过程中掺杂量子阱层的Si与p型半导体层的Mg扩散相接触的几率,改善半导体发光元件,尤其是紫外半导体发光元件的老化发光衰减性能,使得1000小时老化光衰由30%以上(甚至50%以上)下降至10%以内。

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