电子物件的测试探针

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200520104340.5
IPC分类号：G01R1/073
申请日期：
2005-07-27
申请人：
晋恒股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	电子物件的测试探针
申请号	CN200520104340.5	申请日期	2005-07-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/073 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕 G01R1/073 多个探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	晋恒股份有限公司	申请人地址	台湾省台北市士林区延平北路六段480号3楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	晋恒股份有限公司	当前权利人	晋恒股份有限公司
发明人	陈志岳
代理机构	上海浦一知识产权代理有限公司	代理人	丁纪铁

摘要

本实用新型公开了一种电子物件的测试探针，该电子物件的测试探针包括：探针座，探针等部分，所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱型探针，各探针的一端朝待测物件斜向凸伸成探测端，各探针的另一端可电连接到相关测试仪器，当该探针的探测端随探针座滑移与待测物件的测试点接触时，利用上述斜向延伸的探针受力产生的自体弹性弯曲变形，使探测端保持弹性完全接触。本实用新型可测试间距微小的待测物件。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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