一种基于传输线的近场探头空间分辨率的行波校准方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201611052228.0
IPC分类号：G01R35/00
申请日期：
2016-11-24
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于传输线的近场探头空间分辨率的行波校准方法
申请号	CN201611052228.0	申请日期	2016-11-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-24	公开/公告号	CN106707210A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	戴飞;高占威;王凯;冯骁尧
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	杨学明;顾炜

摘要

本发明涉及一种基于传输线的近场探头空间分辨率的行波校准方法，步骤1：近场探头空间分辨率校准标尺的设计；步骤2：近场探头空间分辨率的校准测量。本发明结合近场EMI测试系统中的接收机或频谱仪给定的幅度精度，基于传输线理论，以多导体平面传输线为构建平台，通过构建一个场分布特征可解析且校准精度在一定范围内可调的空间分辨率校准标尺。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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