加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种面板检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811639294.7
  • IPC分类号:G02F1/13
  • 申请日期:
    2018-12-29
  • 申请人:
    武汉华星光电技术有限公司
著录项信息
专利名称一种面板检测方法
申请号CN201811639294.7申请日期2018-12-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-04-09公开/公告号CN109597228A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02F1/13IPC分类号G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人武汉华星光电技术有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉华星光电技术有限公司当前权利人武汉华星光电技术有限公司
发明人国春朋
代理机构深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)代理人黄威
摘要
本发明提供一种面板检测方法,所述检测方法包括:S10、提供一主机、至少两个光学探头;S20、所述主机发送点亮指令以及输入共电极电压给面板组;S30、所述光学探头分别检测所述面板组中任一面板的闪烁值并传回给所述主机;S40、所述主机判断所述闪烁值是否为最佳闪烁值;S50、所述主机判断所述闪烁值为最佳闪烁值,将所述面板的所述最佳闪烁值对应的共电极电压记录为所述面板的最佳共电极电压;S60、所述主机判断所述闪烁值不是最佳闪烁值,所述主机调整输入共电极电压值,并重复S20至S40;有益效果:本发明实施例通过将原有的一个主机对应一个光学探头的模式切换为一个主机对应两个或者多个光学探头,达到提高模组生产良率的技术效果。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供