用于测试一个存储器阵列的方法和带有一个故障响应信号通知模式的可测试的基于存储器的设备 ,用于当在故障模式中发现预定的对应关系时仅以一个无损耗压缩响应的形式用信号通知这样一个故障模式

发明专利无效专利

申请号：
CN00801460.4
IPC分类号：G11C29/00
申请日期：
2000-07-17
申请人：
皇家菲利浦电子有限公司

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专利名称	用于测试一个存储器阵列的方法和带有一个故障响应信号通知模式的可测试的基于存储器的设备 ,用于当在故障模式中发现预定的对应关系时仅以一个无损耗压缩响应的形式用信号通知这样一个故障模式
申请号	CN00801460.4	申请日期	2000-07-17
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2001-12-19	公开/公告号	CN1327595
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0查看分类表>
申请人	皇家菲利浦电子有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	NXP股份有限公司	当前权利人	NXP股份有限公司
发明人	E·J·马里尼森;G·E·A·洛斯博格;P·维拉格
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	梁永

摘要

通过配对连接一个激励发生器和一个响应鉴别器测试一种存储器阵列，特别是一种嵌入式存储器阵列。在不处于测试状态时引导所述配对处于透明方式，并且在测试状态时分别处于一个激励发生方式和一个响应鉴别方式。在随后的阵列修理状态中允许建立行和/或列介入修理。特别是，鉴别器将鉴别连续的故障模式的对应关系，并且另外把一个故障响应通知信号模式到外部电路，仅以一个无损耗压缩响应模式的形式根据在一个早先的故障模式和一个随后的故障模式之间的预定对应关系向两个被比较的模式中的一个发送通知信号。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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