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基于FPGA测试自适应进位延时链系数调节系统及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202111219591.8
  • IPC分类号:G04F10/00
  • 申请日期:
    2021-10-20
  • 申请人:
    南京宏泰半导体科技有限公司
著录项信息
专利名称基于FPGA测试自适应进位延时链系数调节系统及方法
申请号CN202111219591.8申请日期2021-10-20
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-11-16公开/公告号CN113655702A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G04F10/00IPC分类号G;0;4;F;1;0;/;0;0查看分类表>
申请人南京宏泰半导体科技有限公司申请人地址
江苏省南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京宏泰半导体科技有限公司当前权利人南京宏泰半导体科技有限公司
发明人廖阳阳;李全任
代理机构南京新众合专利代理事务所(普通合伙)代理人彭雄
摘要
本发明公开了一种基于FPGA测试自适应进位延时链系数调节系统及方法,包括模数信号转换与信号展宽电路、FPGA单元、数据处理模块,所述FPGA单元包括边缘检测模块、满时钟进位链模块、粗时钟计数模块、进位链计数模块,模数信号转换与信号展宽电路是为了适应各种电信号形式和为了适应不同的信号宽度。边缘检测模块用于对数据边缘定位,粗时钟计数模块用于对信号粗精度计数。满时钟进位链模块用于实时传输满时钟在同一条进位链传输的进位链数量,用于实时校准进位链精度数据,本发明降低了进位链测试系统中,温度以及电压对测时精度的影响,提高进位链测时精度。

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