基于ATE设备自检的方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110673638.1
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2021-06-17
申请人：
杭州加速科技有限公司

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著录项信息

专利名称	基于ATE设备自检的方法和系统
申请号	CN202110673638.1	申请日期	2021-06-17
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-22	公开/公告号	CN113539350A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	杭州加速科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号1幢103M室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州加速科技有限公司	当前权利人	杭州加速科技有限公司
发明人	邬刚;黄海平
代理机构	浙江杭知桥律师事务所	代理人	陈丽霞

摘要

本发明涉及ATE设备领域，公开了基于ATE设备自检的方法和系统，其包括PC端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，PC端生成测试文件；测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信息进行校验；测试结果判断，PC端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；测试用例判断，PC端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。通过对ATE设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于ATE设备稳定性、性能测试自动化率以及测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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