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一种带电粒子探测装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610285009.0
  • IPC分类号:H01J37/244
  • 申请日期:
    2016-05-03
  • 申请人:
    睿励科学仪器(上海)有限公司
著录项信息
专利名称一种带电粒子探测装置
申请号CN201610285009.0申请日期2016-05-03
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-11-10公开/公告号CN107342205A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J37/244IPC分类号H;0;1;J;3;7;/;2;4;4查看分类表>
申请人睿励科学仪器(上海)有限公司申请人地址
上海市浦东新区张江高科技园区华佗路68号6幢 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人睿励科学仪器(上海)有限公司当前权利人睿励科学仪器(上海)有限公司
发明人罗浒;张旭
代理机构北京启坤知识产权代理有限公司代理人赵晶
摘要
本发明提供了一种带电粒子的探测装置,该带电粒子探测装置包括:网格电极,用于吸引带电粒子;转换电极,用于会聚带电粒子,以及当所述带电粒子为二次离子时,将所述二次离子转换为二次电子,其中,所述转换电极的粒子入口的面积小于粒子出口的面积;电子探测单元,用于吸收二次电子并将探测信号放大输出;屏蔽外壳。根据本发明的带电粒子探测装置,能够大大提高对来自样品的二次离子和二次电子的探测效率,且结构简单,易于实现,能够大大降低制作难度和成本。

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