进样口密封装置及其气相分析仪系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200410080299.2
IPC分类号：G01N30/16;G01N30/00;F16J15/02
申请日期：
2004-09-30
申请人：
安捷伦科技公司

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著录项信息

专利名称	进样口密封装置及其气相分析仪系统
申请号	CN200410080299.2	申请日期	2004-09-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-04-05	公开/公告号	CN1755358
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N30/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N30/00 利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 29/00优先）〔4〕 G01N30/02 柱色谱法〔4〕 G01N30/04 待分析样品的制备或注入〔4〕 G01N30/16 注入（G01N 30/24优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;3;0;/;1;6;;;G;0;1;N;3;0;/;0;0;;;F;1;6;J;1;5;/;0;2查看分类表>
申请人	安捷伦科技公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安捷伦科技有限公司	当前权利人	安捷伦科技有限公司
发明人	宋伟晾;徐立;何国琛
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	柳春雷

摘要

本发明揭示一种气相分析仪系统，该系统包括进样口，该进样口进一步包括：一下部组件，包括一第一阳性单元，其中所述第一阳性单元为圆柱形凸销；一上部组件，具有一第一斜面、一第一阴性单元以及一横向驱动单元，其中，所述阴性单元为卡口；其中，所述上部组件被设置成通过对准该上部组件的第一阴性单元与该下部组件的第一阳性单元而被放入该下部组件，该横向驱动单元设置成横向驱动该上部组件，使该上部组件的第一斜面上升抵靠该下部组件的第一阳性单元，使该上部组件能够与该下部组件密合，其中，当该上部组件与该下部组件密合时，该第一阳性单元的位置高于该上部组件的第一斜面的最低位置，而低于该上部组件的第一斜面的最高位置。

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