一种基于AWG和光开关的光波长计

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201320323272.6
IPC分类号：G01J9/00
申请日期：
2013-06-06
申请人：
中国电子科技集团公司第四十一研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于AWG和光开关的光波长计
申请号	CN201320323272.6	申请日期	2013-06-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;0查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第四十一研究所	申请人地址	山东省青岛市经济技术开发区香江路98号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第四十一研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第四十一研究所
发明人	刘志明;陈坤峰;高业胜
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型适用于光波长测量领域，提供了一种基于AWG和光开关的光波长计，其特征在于，该波长计包括：一个1×N的AWG(101)、一个1×N的光开关(102)、一个光电探测器(103)和数据处理单元(104)；所述AWG(101)的分叉端11至分叉端1N分别依次连接到所述光开关(102)的分叉端21至分叉端2N；所述光开关(102)的一字端(20)与所述光电探测器(103)的输入端相连接；所述光电探测器(103)的输出端与所述数据处理单元(104)相连接。本实用新型所述的光波长计具有低成本、全固态以及可集成化的优点，同时还具有受环境因素影响小、稳定性好、结构简单，易于推广等特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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