一种OLED器件在线质量检测方法及应用

发明专利有效专利

申请号：
CN202011353586.1
IPC分类号：G01R31/26;G01J3/28;G01J3/44
申请日期：
2020-11-27
申请人：
华南理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种OLED器件在线质量检测方法及应用
申请号	CN202011353586.1	申请日期	2020-11-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-02-23	公开/公告号	CN112394270A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;4;4查看分类表>
申请人	华南理工大学	申请人地址	广东省广州市天河区五山路381号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南理工大学	当前权利人	华南理工大学
发明人	刘琳琳;林延锐
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	李斌

摘要

本发明公开了一种OLED器件在线质量检测方法及应用，该方法步骤包括：用起始电压驱动点亮OLED器件；使用拉曼光谱仪对OLED器件进行成像，在无激发光源的条件下，收集OLED器件电致发光EL谱信息；通过峰强信息成像得到EL谱信息各层EL成像图，用于确认坏点；基于确认的坏点，在缺陷位置采用激光激发，收集记录PL及Raman谱信息；根据PL及Raman谱信息处理得到各层对应缺陷位置的PL及Raman成像图；对OLED器件同一区域采集的多种光谱信息，联合EL、PL及Raman成像图对缺陷形成机理进行分析得到缺陷成因，统计记录缺陷种类，得到质量检测结果。通过该OLED器件在线质量检测方法，能在早期预测坏点的生成，明确坏点的成因，从而提高良品率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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