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一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200510056344.5
  • IPC分类号:H01L21/82;G06F17/50;G11C19/00;G11C29/00;G06F11/00
  • 申请日期:
    2005-03-18
  • 申请人:
    中国科学院计算技术研究所
著录项信息
专利名称一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法
申请号CN200510056344.5申请日期2005-03-18
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2005-10-26公开/公告号CN1688022
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/82
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;8;2;;;G;0;6;F;1;7;/;5;0;;;G;1;1;C;1;9;/;0;0;;;G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;0;6;F;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院计算技术研究所申请人地址
北京市海淀区中关村科学院南路6号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院计算技术研究所当前权利人中国科学院计算技术研究所
发明人鲁巍;李晓维
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人段成云
摘要
本发明涉及集成电路设计验证领域,特别是一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法。通过增强型进程控制树、控制-观测链等数据模型表征可观测性信息,在此基础上,通过对设计电路动态执行过程中,每个观测点的控制-观测链的确定与回退,分析语句与变量的可观测性,得到可观测性语句覆盖率,并且利用得到的可观测性信息指导激励生成。本发明解决了目前已有的可观测性覆盖评估方法复杂度高以及在激励生成过程中不考虑可观测性的问题。生成。本发明可用于在模拟过程中计算代码的可观测性语句覆盖率,进而更确切地评估验证的力度,也可以用于在激励生成过程中以可观测性覆盖信息为指导,提高激励的质量。

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