异形导体零件尺寸测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200810232192.3
IPC分类号：G01B5/02;G01B5/24
申请日期：
2008-11-07
申请人：
中国西电电气股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	异形导体零件尺寸测量方法
申请号	CN200810232192.3	申请日期	2008-11-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-03-18	公开/公告号	CN101387487
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 5/004，G01B 5/08优先）〔6〕	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;0;2;;;G;0;1;B;5;/;2;4查看分类表>
申请人	中国西电电气股份有限公司	申请人地址	陕西省西安市唐兴路7号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国西电电气股份有限公司	当前权利人	中国西电电气股份有限公司
发明人	肖湘莹
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	朱海临

摘要

本发明公开了一种异形导体零件尺寸测量方法，首先根据被测零件的倾斜孔径制备相应直径的芯轴，芯轴的一端设有斜面与芯轴端面相交，两平面交线过芯轴直径，斜面角度与被测零件的倾斜孔中心线的倾斜角度相一致；然后在与芯轴斜面相交的芯轴端面上连接一个限位板；将被测零件放置在检测平台上，沿零件的倾斜孔插入芯轴，通过限位板使芯轴带有斜面的端面与零件倾斜孔端面的重合，芯轴斜面成为平面，将零件倾斜孔端面与其中心线的交点，也即虚点D引出；用高度尺的测头靠近芯轴端面与斜面的交线处即可测量零件的高度尺寸H。本发明将零件测量虚点D转化为可采测量点，可满足传统方法无法测量的隔离开关异形导体的空间及角度尺寸。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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