正位度检测治具发明专利
申请号：CN200910035943.7
LOC分类号:G01B5/00
IPC结构图谱：
- G物理
- G0仪器
- G02光学
- G02B光学元件、系统或仪器（G02F优先；专用于照明装置或系统的光学元件入F21V 1/00至F21V 13/00；测量仪器见G01类的有关小类，例如，光学测距仪入G01C；光学元件、系统或仪器的测试入G01M 11/00；眼镜入G02C；摄影、放映或观看用的装置或设备入G03B；声透镜入G10K 11/30；电子和离子“光学”入H01J；X射线“光学”入H01J，H05G 1/00；结构上与放电管相组合的光学元件入H01J 5/16，H01J 29/89，H01J 37/22；微波“光学”入H01Q；光学元件与电视接收机的组合装置入H04N 5/72；彩色电视系统中的光学系统或装置入H04N 9/00；专门适用于透明或反射区的加热装置入H05B 3/84）〔1，7〕
- G02B15/00具有改变放大率装置的光学物镜（变形物镜入G02B 13/08）
- G02B15/14利用一个透镜或多个透镜或透镜组相对于成像平面作轴向移动，以便连续改变物镜的等效焦距〔4〕
- G02B15/16具有在一种透镜或透镜组和另一个透镜或透镜组之间的相互影响的非线性相对移动的（G02B 15/22优先）〔4〕
- G02B15/163在一个固定的透镜或透镜组的前面有第一个可移动的透镜或透镜组和第二个可移动的透镜或透镜组（G02B 15/177优先）〔4〕
- G02B15/167有一个辅加的固定的前透镜或透镜组〔4〕
- G02B15/17按“+--”排列的〔4〕
