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一种背光装置及取像测试系统

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201920891801.X
  • IPC分类号:G02F1/13;G01N21/95
  • 申请日期:
    2019-06-13
  • 申请人:
    武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
著录项信息
专利名称一种背光装置及取像测试系统
申请号CN201920891801.X申请日期2019-06-13
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02F1/13IPC分类号G;0;2;F;1;/;1;3;;;G;0;1;N;2;1;/;9;5查看分类表>
申请人武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉精立电子技术有限公司,武汉精测电子集团股份有限公司当前权利人武汉精立电子技术有限公司,武汉精测电子集团股份有限公司
发明人易洁
代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人暂无
摘要
本实用新型属于光学检测技术领域,公开了一种背光装置及取像测试系统,其中背光装置包括背板、背光‑分辨率组件,至少一个背光‑分辨率组件安装于背板的任意位置,每个背光‑分辨率组件包括层叠设置的背光源和分辨率板;其中取像测试系统包括背光装置、正对背光装置的相机组件。本实用新型能够兼容多种型号CCD相机模组取像效果校验。

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