液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201710933038.8
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/136;G06K9/62
申请日期：
2017-10-09
申请人：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

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著录项信息

专利名称	液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统
申请号	CN201710933038.8	申请日期	2017-10-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-27	公开/公告号	CN107845087A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司	当前权利人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
发明人	史超超
代理机构	深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	钟子敏

摘要

本发明公开了一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和缺陷检测系统包括：采集液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理；记录每一行像素坐标值及灰阶值，依据灰阶值认定背景区域和亮度不均匀缺陷像素点；获取亮度不均匀缺陷结果；获取背景区域图像和亮度不均匀缺陷结果；对获取的亮度不均匀缺陷结果进行与运算，得到新的亮度不均匀缺陷结果；采用SEMU算法对不均匀缺陷等级进行量化，得到第一量化值；采用结构相似性算法对相似度进行量化，得到第二量化值；计算后划分液晶面板的缺陷等级。本发明便于生产线快速、稳定地检测液晶面板亮度不均匀缺陷和对液晶面板进行分级，控制成本，提高利润率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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