一种基于光学测距的倾斜测量装置及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810027984.0
IPC分类号：G01C3/02
申请日期：
2018-01-11
申请人：
武汉桓参工程科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于光学测距的倾斜测量装置及测量方法
申请号	CN201810027984.0	申请日期	2018-01-11
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-04-17	公开/公告号	CN107917693A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01C3/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01C 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学（液体水平面的测量入G01F；无线电导航，通过利用无线电波的传播效应，例如多普勒效应，传播时间来测定距离或速度，利用其他波的类似装置入G01S） G01C3/00 视距测量；光学测距仪（测量长度的卷尺、测链或测轮入G01B 3/00；有源三角测量系统，即使用除了无线电波之外的电磁波的发射和反射入G01S 17/48）〔1，8〕 G01C3/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;C;3;/;0;2查看分类表>
申请人	武汉桓参工程科技有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区关山大道1号软件产业园4.1期E3栋704室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉桓参工程科技有限公司	当前权利人	武汉桓参工程科技有限公司
发明人	李松泰;徐达
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种基于光学测距的倾斜测量装置及测量方法，测量装置主要包括测量杆、GNSS天线、差分定位模块、通信模块、激光测距模块、运动检测模块、蓝牙模块和微处理器，使用该测量装置进行测量时，首先对基于光学测距的倾斜测量装置进行指北精度修正，随后将基于光学测距的倾斜测量装置的激光光束指向待测点，通过解算，即可获取待测点高精度定位信息。与现有技术相比，本发明通过一次测量即可获取高精度定位值的方式，简化了测量步骤，减低了测量难度，提升了测量效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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