在光学记录介质上记录数据的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200810081211.7
IPC分类号：G11B20/18;G11B7/0045
申请日期：
2004-04-14
申请人：
三星电子株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	在光学记录介质上记录数据的方法
申请号	CN200810081211.7	申请日期	2004-04-14
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2008-09-17	公开/公告号	CN101266822
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11B20/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11B 基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储（以不需要通过换能器重现记录值的方式记录测量值的入G01D 9/00；利用有机械标记的带子，例如，穿孔纸带或利用单元记录卡，如穿孔卡片或具有磁性标记的卡片的记录或重现设备入G06K；将数据从记录载体的一种类型转移到另一种类型上的入G06K 1/18；将重放装置的输出耦合到无线电接收机上去的电路入H04B 1/20；唱机拾音器之类的声音机电传感器或为此所用的电路入H04R） G11B20/00 并非专指记录或重现方法的信号处理；为此所用的电路〔4〕 G11B20/10 数字记录或重现〔4〕 G11B20/18 错误的检测或校正；测试〔4〕	IPC分类号	G;1;1;B;2;0;/;1;8;;;G;1;1;B;7;/;0;0;4;5查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	黄盛凞;高祯完
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	韩明星;常桂珍

摘要

提供一种在光学记录介质上记录数据的方法，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述方法包括：选择缺陷管理开/关模式，所述缺陷管理开/关模式允许记录设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；将临时盘定义结构记录在设置于导入区或导出区中的临时缺陷管理区中，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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