一种放射性污染的测量方法及装置

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专利名称	一种放射性污染的测量方法及装置
申请号	CN201110222992.9	申请日期	2011-08-04
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-06	公开/公告号	CN102914788A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/167 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/167 测量物体放射性含量，例如，污染的测量（全身计数器入G01T 1/163）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;1;6;7查看分类表>
申请人	上海原子科兴药业有限公司	申请人地址	上海市嘉定区嘉罗公路2019号46幢变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海原子科兴药业有限公司	当前权利人	上海原子科兴药业有限公司
发明人	胡溥
代理机构	上海科盛知识产权代理有限公司	代理人	赵继明

摘要

本发明涉及一种放射性污染的测量方法及装置，该方法包括以下步骤：1)将检测仪放置在支架上；2)将被检测物放置在支架下方，离检测仪探测区适当的距离处；3)打开检测仪进行测量；该装置包括检测仪和支架，所述的检测仪设置在支架上方。与现有技术相比，本发明具有操作方便、可加快检测速度、节省检测时间等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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