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一种用于裸芯片测试的双凹槽PCB板结构及其制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201611145597.4
  • IPC分类号:H05K1/02;H05K1/18;G01R31/28
  • 申请日期:
    2016-12-13
  • 申请人:
    中国电子科技集团公司第二十研究所
著录项信息
专利名称一种用于裸芯片测试的双凹槽PCB板结构及其制造方法
申请号CN201611145597.4申请日期2016-12-13
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2017-05-31公开/公告号CN106793454A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H05K1/02IPC分类号H;0;5;K;1;/;0;2;;;H;0;5;K;1;/;1;8;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人中国电子科技集团公司第二十研究所申请人地址
陕西省西安市雁塔区光华路1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子科技集团公司第二十研究所当前权利人中国电子科技集团公司第二十研究所
发明人舒钰;毕文婷
代理机构西北工业大学专利中心代理人顾潮琪
摘要
本发明提供了一种用于裸芯片测试的双凹槽PCB板结构及其制造方法,首先加工一块PCB板,在其上加工与裸芯片面积和形状一样的凹槽,并加工导流槽和焊盘;然后加工第二块PCB板,在其上加工面积大于第二级凹槽及导流槽的贯通槽;在相邻两块PCB板之间添加绝缘介质层,并把三块PCB板压合,相邻两块PCB板相对的一面不加工焊盘;使用钻孔工具在压合后的PCB板上开连接通孔;最后在凹槽处粘结裸芯片,采用超声热压焊键合工艺完成裸芯片金属PAD与PCB板上焊盘的金丝键合。本发明结构简单,成本低,易于加工,降低了PCB板设计难度,可较好的避免导电胶溢出时对裸芯片金属PAD的污染。

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