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闪存存储设备的测试方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202011608228.0
IPC分类号：G11C29/56;G06K9/62
申请日期：
2020-12-29
申请人：
北京泽石科技有限公司;泽石科技（武汉）有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	闪存存储设备的测试方法及装置
申请号	CN202011608228.0	申请日期	2020-12-29
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-03-19	公开/公告号	CN112530512A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人	北京泽石科技有限公司;泽石科技（武汉）有限公司	申请人地址	北京市海淀区上地东路1号院1号楼2层203-1室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京泽石科技有限公司,泽石科技（武汉）有限公司	当前权利人	北京泽石科技有限公司,泽石科技（武汉）有限公司
发明人	张坤
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	董文倩

摘要

本发明公开了一种闪存存储设备的测试方法及装置。其中，该方法包括采用测试用例对多个计算机闪存存储设备进行读写测试，得到测试数据；通过聚类算法对测试数据进行聚类，得到多个数据集合；根据多个数据集合生成测试结果。本发明解决了相关技术中通过专用的读写工具生成测试日志，人工分析测试日志确定闪存存储设备的读写速度，误差较大，效率较低的技术问题。

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