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试题难度评估方法、装置及存储介质、计算设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110236671.8
  • IPC分类号:G06Q10/04;G06Q50/20
  • 申请日期:
    2021-03-03
  • 申请人:
    北京世纪好未来教育科技有限公司
著录项信息
专利名称试题难度评估方法、装置及存储介质、计算设备
申请号CN202110236671.8申请日期2021-03-03
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-04-02公开/公告号CN112598202A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06Q10/04IPC分类号G;0;6;Q;1;0;/;0;4;;;G;0;6;Q;5;0;/;2;0查看分类表>
申请人北京世纪好未来教育科技有限公司申请人地址
北京市海淀区中关村大街32号蓝天和盛大厦1702-03室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京世纪好未来教育科技有限公司当前权利人北京世纪好未来教育科技有限公司
发明人岳祥;王凯夫;孙研;彭守业
代理机构上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人王立娜
摘要
本发明实施例提供了一种试题难度评估方法、装置及存储介质、计算设备,所述方法包括:基于第一难度预测模型,确定待评估试题的第一难度预测参数,所述第一难度预测模型用于在第一群体特征参数下,预测待评估试题的第一难度预测参数;基于第二难度预测模型,确定待评估试题的第二难度预测参数,所述第二难度预测模型用于在第二群体特征参数下,预测待评估试题的第二难度预测参数,所述第二群体特征参数不同于所述第一群体特征参数;至少基于所述第一难度预测参数和所述第二难度预测参数,拟合得到所述待评估试题的难度值,从而提高了试题难度评估的准确度。

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