一种基于散射能谱双能窗计算岩石密度的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610049010.3
IPC分类号：G01N9/24;G01N23/203
申请日期：
2016-01-25
申请人：
中国石油大学（华东）

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于散射能谱双能窗计算岩石密度的方法
申请号	CN201610049010.3	申请日期	2016-01-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-05-11	公开/公告号	CN105571986A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N9/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N9/00 测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料 G01N9/24 通过观察穿过材料的波的传播或粒子辐射	IPC分类号	G;0;1;N;9;/;2;4;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0;3查看分类表>
申请人	中国石油大学（华东）	申请人地址	山东省青岛市黄岛区长江西路66号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国石油大学（华东）	当前权利人	中国石油大学（华东）
发明人	张锋;吴赫;张泉滢;王新光;刘军涛
代理机构	济南舜源专利事务所有限公司	代理人	王连君

摘要

本发明公开了一种基于散射能谱双能窗计算岩石密度的方法，属于岩石物理特性技术领域，采用基于散射能谱双能窗的岩石密度测量装置进行岩石密度的计算，首先基于伽马射线与物质发生康普顿散射原理记录散射伽马能谱；选定高能窗和低能窗，利用模拟或刻度的方法获得高、低能窗散射伽马计数与密度响应的函数关系式；进一步获得密度测量值校正量与高、低能窗密度测量值之差的关系以抵消岩性对测量结果的干扰，从而准确的计算被测样品的密度。本发明相对现有的放射法测量物质密度技术，具有计算准确、便捷、不受岩性影响等优势。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供