电磁波检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010209989.9
IPC分类号：G01J1/42;G01J4/04;B82B1/00
申请日期：
2010-06-25
申请人：
清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电磁波检测装置
申请号	CN201010209989.9	申请日期	2010-06-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-11-10	公开/公告号	CN101881659A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/42 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/42 采用电辐射检测器（光学或机械部件入G01J 1/04；与基准光或基准电参数作比较的入G01J 1/10）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;4;2;;;G;0;1;J;4;/;0;4;;;B;8;2;B;1;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司	申请人地址	北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学,鸿富锦精密工业（深圳）有限公司	当前权利人	清华大学,鸿富锦精密工业（深圳）有限公司
发明人	肖林;姜开利;张玉莹;范守善
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种电磁波检测装置，其包括至少一个电磁波检测单元，其中，该每个电磁波检测单元包括：一第一碳纳米管结构，该第一碳纳米管结构包括多个沿第一方向排列的碳纳米管；两个第一电极相互间隔且分别与该第一碳纳米管结构电连接；一第二碳纳米管结构，该第二碳纳米管结构包括多个沿第二方向排列的碳纳米管，该第二碳纳米管结构与该第一碳纳米管结构相对且间隔设置，且该第一方向与第二方向垂直；及两个第二电极相互间隔且分别与该第二碳纳米管结构电连接。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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