高度测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201921231477.5
IPC分类号：G01B5/06;G01B7/30;G01B21/08
申请日期：
2019-07-31
申请人：
上海东培企业有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	高度测量装置
申请号	CN201921231477.5	申请日期	2019-07-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 5/004，G01B 5/08优先）〔6〕 G01B5/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;0;6;;;G;0;1;B;7;/;3;0;;;G;0;1;B;2;1;/;0;8查看分类表>
申请人	上海东培企业有限公司	申请人地址	上海市松江区松江工业区荣乐东路1555号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海东培企业有限公司	当前权利人	上海东培企业有限公司
发明人	蔡云
代理机构	上海弼兴律师事务所	代理人	胡美强

摘要

本实用新型提供一种高度测量装置，其包括有，平台，用于放置被测物体；杆柱，垂直固定于所述平台；位移记录装置，所述位移记录装置固定到一夹具，所述夹具嵌套固定至所述杆柱，所述位移记录装置用于表示其在所述杆柱上的位移；压力计，所述压力计固定至所述夹具，并包括有一垂直投影到所述平台的上端面的探针。一方面，通过设置压力计参与测量，可以避免因操作人员手感不同而造成的误差，另一方面，本高度测量装置不需要使用光栅尺等贵重器件，降低了装置的成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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