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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

过零检测电路、可控硅控制装置、马达控制装置及搅拌器

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202022497045.8
  • IPC分类号:G01R19/175
  • 申请日期:
    2020-11-02
  • 申请人:
    深圳和而泰智能控制股份有限公司
著录项信息
专利名称过零检测电路、可控硅控制装置、马达控制装置及搅拌器
申请号CN202022497045.8申请日期2020-11-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R19/175IPC分类号G;0;1;R;1;9;/;1;7;5查看分类表>
申请人深圳和而泰智能控制股份有限公司申请人地址
广东省深圳市南山区高新南区科技南十路6号深圳航天科技创新研究院大厦D座10楼1010-1011 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳和而泰智能控制股份有限公司当前权利人深圳和而泰智能控制股份有限公司
发明人吴洋波
代理机构北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙)代理人王广涛
摘要
本实用新型实施例涉及电路检测技术领域,公开了一种过零检测电路、可控硅控制装置、马达控制装置及搅拌器,该过零检测电路包括:整流电路的输入端与交流电源的第一接线端连接,整流电路的输出端与光耦电路的输入端连接,对交流电源的第一接线端输出的交流电进行过滤,输出正半周电流给光耦电路;光耦电路与过零检测信号接收端口连接,在根据正半周电流的变化输出第一电平信号或第二电平信号给过零检测信号接收端口,以实现过零检测,第一电平信号小于第二电平信号;恒流电路分别与光耦电路及交流电源的第二接线端连接,在光耦电路输出第一电平信号期间维持光耦电路的电流在一恒定值。本实用新型实施例实现了过零检测中对光耦件性能的保护。

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