一种基于莫尔条纹相位分析的应变测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510233882.0
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2015-05-11
申请人：
中国科学院光电技术研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于莫尔条纹相位分析的应变测量方法
申请号	CN201510233882.0	申请日期	2015-05-11
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-11-25	公开/公告号	CN105091769A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	中国科学院光电技术研究所	申请人地址	四川省成都市双流350信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院光电技术研究所	当前权利人	中国科学院光电技术研究所
发明人	周毅;邓钦元;司新春;刘俊伯;程依光;杨勇;高洪涛;胡松
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于莫尔条纹相位分析的应变测量方法，利用光栅结构产生莫尔条纹结构的机理，将物体结构的应变转化为莫尔条纹的形态变化，通过相位解析的方式确定物体结构的应变量。应变测量过程中平行光垂直入射到物光栅标记G1上，光栅经左双远心系统(1)成像在物体结构表面，然后右双远心系统(2)再次将物体结构表面上的光栅像二次成像到检测光栅标记G2位置，两组光栅标记经过空间成像后重叠在一起形成莫尔条纹分布，由于物体的应变将导致莫尔条纹的相位移动，从而通过相位解析算法反推物体应变量。本方法具有测量精度高，工艺适应性强，实用性强，非接触性等特点。

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