一种用激光扫描共聚焦显微镜测量表面粗糙度的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210393629.8
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2012-10-16
申请人：
首钢总公司

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著录项信息

专利名称	一种用激光扫描共聚焦显微镜测量表面粗糙度的方法
申请号	CN201210393629.8	申请日期	2012-10-16
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-13	公开/公告号	CN102927933A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	首钢总公司	申请人地址	北京市石景山区石景山路68号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	首钢集团有限公司	当前权利人	首钢集团有限公司
发明人	尹立新;刘卫平;鞠新华;任群;刘晓岚;付百林;姚武刚;杨瑞;王泽阳;苗雨芳
代理机构	北京华谊知识产权代理有限公司	代理人	刘月娥

摘要

一种用激光扫描共聚焦显微镜测量表面粗糙度的方法，属于金属材料物理性能检验技术领域。该发明通过标准样块的测定和预测试样的测定等技术步骤，解决传统方法中存在的不能给出被测表面的3D形貌问题。优点在于，实现非接触、对表面无损伤、试样放置不要求具有方向性，能清晰、直观地显示表面的3D图像微观形貌，特别是以简单和可靠的方式进行标准样块的标定程序，对试样测量结果具有一致性和可追溯性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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